Scanning electron microscopy Proceedings of the Annual Scanning Electron Microscopy Symposium 1978,1. An international review of advances in instrumentation, techniques, theory and physical applications of the scanning electron microscope : April 17 - 21, 1978 in Los Angeles, Calif. - 1978
Gespeichert in:
Format: | Tagungsbericht Buch |
---|---|
Sprache: | Undetermined |
Veröffentlicht: |
Chicago, Ill.
1978
|
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar
Unser Bibliotheksverwaltungssystem ist momentan wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar.
Bestandes- und Verfügbarkeitsinformationen können momentan leider nicht angezeigt werden. Wir entschuldigen uns für die Umstände und stehen für weitere Fragen gerne zur Verfügung: