Untersuchungen zur Lage des Raumpotentials in der 2. Ableitung der Sondencharakteristik mit Hilfe von Glühsonden
Nach einem verbesserten Nullstromverfahren wird mit Hilfe von Glühsonden das Raum‐potential in der positiven Säule von He‐ und Ne‐Niederdruckentladungen gemessen. Daneben werden mit einer elektronischen Anlage die 2. Ableitungen der Kennlinien von kalten und erhitzten Sonden aufgezeichnet. Wenn die...
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Veröffentlicht in: | Beiträge aus der Plasmaphysik 1972, Vol.12 (1), p.17-25 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | Nach einem verbesserten Nullstromverfahren wird mit Hilfe von Glühsonden das Raum‐potential in der positiven Säule von He‐ und Ne‐Niederdruckentladungen gemessen. Daneben werden mit einer elektronischen Anlage die 2. Ableitungen der Kennlinien von kalten und erhitzten Sonden aufgezeichnet.
Wenn die Sondenspannung die Ionisierungsspannung des verwendeten Gases erreicht, können die von der Glühsonde emittierten Elektronen zusätzlich Ionen produzieren, so daß beim Ionisierungspotential ein weiteres Minimum in der zweiten Ableitung auftritt, dessen Lage ebenfalls das Raumpotential zu bestimmen gestattet.
Beide Meßverfahren liefern übereinstimmend, daß das Raumpotential mit dem Nulldurchgang der zweiten Ableitung zusammenfällt.
Es zeigte sich, daß die Oberflächenbeschaffenheit der Sonde den Verlauf der 2. Ableitung im Bereich des Raumpotentials wesentlich mitbestimmt. |
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ISSN: | 0005-8025 1521-3986 |
DOI: | 10.1002/ctpp.19720120104 |