基于粒子群算法的多次反射飞行时间质量分析器电压优化

O657.63; 多次反射飞行时间(MR-TOF)是一种新型的质量分析器,常用于分析短寿命离子、分离同重元素和存储离子.随着使用需求的增加,提高MR-TOF质量分析器的分辨能力越来越重要.然而,MR-TOF质量分析器电压参数的优化涉及高维度、高精细度和非线性的问题,很难用解析方法得到最优参数.本研究提出了一种基于粒子群(PSO)算法的MR-TOF质量分析器电压参数优化方法,并对粒子群算法进行改进.在SIMION离子光学仿真平台上对优化方法进行测试,比较了标准粒子群算法和改进粒子群算法的优化结果.结果表明,改进粒子群算法能够获得超过810 000的极限质量分辨率,相比标准粒子群算法有更好的性能....

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Veröffentlicht in:质谱学报 2023-09, Vol.44 (5), p.667-675
Hauptverfasser: 黄奇, 任熠, 陈政阁, 陈剑松, 洪义, 梁欣, 李梅, 黄正旭, 周振
Format: Artikel
Sprache:chi
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:O657.63; 多次反射飞行时间(MR-TOF)是一种新型的质量分析器,常用于分析短寿命离子、分离同重元素和存储离子.随着使用需求的增加,提高MR-TOF质量分析器的分辨能力越来越重要.然而,MR-TOF质量分析器电压参数的优化涉及高维度、高精细度和非线性的问题,很难用解析方法得到最优参数.本研究提出了一种基于粒子群(PSO)算法的MR-TOF质量分析器电压参数优化方法,并对粒子群算法进行改进.在SIMION离子光学仿真平台上对优化方法进行测试,比较了标准粒子群算法和改进粒子群算法的优化结果.结果表明,改进粒子群算法能够获得超过810 000的极限质量分辨率,相比标准粒子群算法有更好的性能.该方法具有操作简单、优化速度快、求解效果好等优点,可为MR-TOF质量分析器的电压优化提供方法参考,从而提高MR-TOF质量分析器的开发效率.
ISSN:1004-2997
DOI:10.7538/zpxb.2023.0024