邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究

O657.63; 二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时,邻近微粒间可能产生干扰.在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究,结果表明,微粒间距超过22 μm(U350)和35 μm(U0002)时,微粒的234U/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与标称值相符;相同间距时,丰度低的微粒比丰度高的微粒受到的干扰严重,安全距离也更大;同一距离下,后测量的微粒比先测量的微粒受到的干扰严重,形貌疏松、尺寸小的微粒比密实、尺寸大的微粒受到的干扰严重.由已知两种丰度微粒计算得出的线性组合系数K4(234U/=238U)...

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Veröffentlicht in:	质谱学报 2021, Vol.42 (3), p.326-333
Hauptverfasser:	张燕, 赵永刚, 王同兴, 沈彦, 王凡, 鹿捷
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	O657.63; 二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时,邻近微粒间可能产生干扰.在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究,结果表明,微粒间距超过22 μm(U350)和35 μm(U0002)时,微粒的234U/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与标称值相符;相同间距时,丰度低的微粒比丰度高的微粒受到的干扰严重,安全距离也更大;同一距离下,后测量的微粒比先测量的微粒受到的干扰严重,形貌疏松、尺寸小的微粒比密实、尺寸大的微粒受到的干扰严重.由已知两种丰度微粒计算得出的线性组合系数K4(234U/=238U)、K5 (235U/238U)和K6(236U/238U)是否相近可以作为可疑混合微粒的判断准则.采用微操作进行单微粒剥离是消除相邻微粒干扰的有效方法.该工作为SIMS分析过程中有邻近微粒干扰时,发现、处理和排除可疑混合微粒数据,准确测量铀微粒同位素提供了参考.
ISSN:	1004-2997
DOI:	10.7538/zpxb.2020.0065