Cu离子掺杂对Ni-Zn铁氧体结构和介电性能的影响

通过传统的陶瓷制备工艺制备了一系列Cu掺杂的Ni0.5?xCuxZn0.5Fe2O4(x=0.12,0.16,0.20,0.24,0.28)尖晶石铁氧体,研究Cu离子掺杂对其结构和介电性质的影响。XRD结果表明所有样品均生成了单一的立方尖晶石结构,并且晶格常数随着Cu掺入量的增加而增加。通过扫描电镜观察到位于晶界处的白色颗粒为富Cu相。介电常数随频率变化曲线显示出尖晶石铁氧体典型的介电行为。但介电损耗随频率变化曲线则表现异常,所有的 Cu掺杂Ni?Zn铁氧体样品在某一频率下都表现出损耗峰。由于单位体积内Fe2+/Fe3+之间跃迁的电子数目减少,x=0.2的样品电阻率最大,而介电常数和介电损耗则...

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Veröffentlicht in:中国有色金属学报(英文版) 2015 (11), p.3678-3684
Hauptverfasser: 罗广圣, 周卫平, 李建德, 姜贵文, 唐少龙, 都有为
Format: Artikel
Sprache:chi
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:通过传统的陶瓷制备工艺制备了一系列Cu掺杂的Ni0.5?xCuxZn0.5Fe2O4(x=0.12,0.16,0.20,0.24,0.28)尖晶石铁氧体,研究Cu离子掺杂对其结构和介电性质的影响。XRD结果表明所有样品均生成了单一的立方尖晶石结构,并且晶格常数随着Cu掺入量的增加而增加。通过扫描电镜观察到位于晶界处的白色颗粒为富Cu相。介电常数随频率变化曲线显示出尖晶石铁氧体典型的介电行为。但介电损耗随频率变化曲线则表现异常,所有的 Cu掺杂Ni?Zn铁氧体样品在某一频率下都表现出损耗峰。由于单位体积内Fe2+/Fe3+之间跃迁的电子数目减少,x=0.2的样品电阻率最大,而介电常数和介电损耗则最小。
ISSN:1003-6326
DOI:10.1016/S1006-6326(15)64077-8