可逆比热容法测量高中子注量率

O571.53; 目前直接测量高中子注量率一直难于实现,为了解决该问题,本文采用热分析仪器测量受中子辐照后材料可逆比热容的变化来测量高中子注量率.对中国先进研究堆(CARR)辐照孔道的高中子注量率进行了测量,所测量的中子注量率与参考值均在3％左右符合,证明可逆比热容法可直接测量高中子注量率.本文方法是对高中子注量率直接测量的有益尝试....

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Veröffentlicht in:	原子能科学技术 2023-05, Vol.57 (5), p.939-945
Hauptverfasser:	杨铜锁, 朱庆福, 史永谦, 辛督强, 乔硕, 王璠, 鲁谨, 彭旦, 张建祥
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	O571.53; 目前直接测量高中子注量率一直难于实现,为了解决该问题,本文采用热分析仪器测量受中子辐照后材料可逆比热容的变化来测量高中子注量率.对中国先进研究堆(CARR)辐照孔道的高中子注量率进行了测量,所测量的中子注量率与参考值均在3％左右符合,证明可逆比热容法可直接测量高中子注量率.本文方法是对高中子注量率直接测量的有益尝试.
ISSN:	1000-6931
DOI:	10.7538/yzk.2022.youxian.0440