基于概率统计的单粒子多单元翻转信息提取方法

TN407; 航空航天电子系统对电子器件选型评估时需考虑器件的多单元翻转(MCU)情况,而MCU信息提取面临的最主要困难是缺少器件的版图信息.本文提出一种基于概率统计的单粒子MCU信息提取方法,其可在无版图信息条件下以较高精度提取单粒子翻转(SEU)实验数据中的MCU信息.该方法通过统计分析SEU实验数据中不同翻转地址间的按位异或和汉明距离以提取MCU模板,然后利用该模板提取MCU信息.采用一款位交错SRAM器件的重离子实验数据对上述方法进行了验证,结果表明,该方法能以较高的精度提取实验数据中的MCU信息.该方法可省去对器件进行逆向工程的时间和成本,提高科学研究和航空航天器件选型效率....

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Veröffentlicht in:	原子能科学技术 2021-02, Vol.55 (2), p.353-359
Hauptverfasser:	王勋, 罗尹虹, 丁李利, 张凤祁, 陈伟, 郭晓强, 王坦
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	TN407; 航空航天电子系统对电子器件选型评估时需考虑器件的多单元翻转(MCU)情况,而MCU信息提取面临的最主要困难是缺少器件的版图信息.本文提出一种基于概率统计的单粒子MCU信息提取方法,其可在无版图信息条件下以较高精度提取单粒子翻转(SEU)实验数据中的MCU信息.该方法通过统计分析SEU实验数据中不同翻转地址间的按位异或和汉明距离以提取MCU模板,然后利用该模板提取MCU信息.采用一款位交错SRAM器件的重离子实验数据对上述方法进行了验证,结果表明,该方法能以较高的精度提取实验数据中的MCU信息.该方法可省去对器件进行逆向工程的时间和成本,提高科学研究和航空航天器件选型效率.
ISSN:	1000-6931
DOI:	10.7538/yzk.2020.youxian.0105