微芯片上金属离子检测研究进展
总结了最近10年微流控芯片上金属离子常用的检测方法,主要有光学检测、电化学检测、质谱检测和其他检测方法。提出了微流控芯片在金属离子检测中存在的问题,并对微流控芯片检测的发展和应用进行了展望。
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Veröffentlicht in: | 现代化工 2012, Vol.32 (9), p.107-110 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | chi |
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Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | 总结了最近10年微流控芯片上金属离子常用的检测方法,主要有光学检测、电化学检测、质谱检测和其他检测方法。提出了微流控芯片在金属离子检测中存在的问题,并对微流控芯片检测的发展和应用进行了展望。 |
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ISSN: | 0253-4320 |