微芯片上金属离子检测研究进展

总结了最近10年微流控芯片上金属离子常用的检测方法,主要有光学检测、电化学检测、质谱检测和其他检测方法。提出了微流控芯片在金属离子检测中存在的问题,并对微流控芯片检测的发展和应用进行了展望。

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Veröffentlicht in:现代化工 2012, Vol.32 (9), p.107-110
1. Verfasser: 张靖 廖俊生
Format: Artikel
Sprache:chi
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Beschreibung
Zusammenfassung:总结了最近10年微流控芯片上金属离子常用的检测方法,主要有光学检测、电化学检测、质谱检测和其他检测方法。提出了微流控芯片在金属离子检测中存在的问题,并对微流控芯片检测的发展和应用进行了展望。
ISSN:0253-4320