银纳米线透明导电薄膜的失效机理研究

TQ174; 银纳米线透明导电薄膜材料作为新兴的无铟电极材料,以其优越的光电性能和力学柔韧性,在显示器件、触控面板、太阳能电池、智能加热和电磁屏蔽等领域崭露头角,吸引越来越多的来自科研界及产业界的关注.然而,银纳米线透明导电薄膜在应用中面临着较为严重的稳定性问题,主要表现为容易被痕量含硫气体腐蚀,在300℃以上的温度下纳米线出现断裂和球形化等结构失稳现象,在紫外光照条件下腐蚀及球形化加剧,在加载电场条件下出现离子迁移并产生孔洞及断裂现象.本文详细介绍了以上各种失效现象,分析了失效的微观机制,介绍了解决各种失效现象的具体措施.银纳米线透明导电薄膜失效行为的研究,有助于进一步推动该材料的实际应用进程.