Al2O3掺杂对YSZ固体电解质烧结及电性能的影响

研究了用常规共沉淀法掺杂Al2O3对YSZ固体电解质的烧结及电性能的影响．结果表明：适量的Al2O3能提高YSZ材料的烧结性能，促使其致密化，但过量的Al2O3对材料的致密化不利；同时，材料的晶界电导随Al2O3含量的增大表现出先增大后减小的变化趋势，这与Al2O3对YSZ晶界两方面的不同影响有关，Al2O3偏析于晶界一方面能清除晶界上对氧离子电导不利的SiO2，但另一方面也会降低晶界空间电荷层中的自由氧离子空穴的浓度．...

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Veröffentlicht in:	Wu ji cai liao xue bao 2004, Vol.19 (3), p.686-690
1. Verfasser:	利明何莉萍陈宗璋李素芳向兰翔罗上庚邹长贵梁雪元
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Schlagworte:	Al2O3 氧化锆氧离子空穴空间电荷层
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	研究了用常规共沉淀法掺杂Al2O3对YSZ固体电解质的烧结及电性能的影响．结果表明：适量的Al2O3能提高YSZ材料的烧结性能，促使其致密化，但过量的Al2O3对材料的致密化不利；同时，材料的晶界电导随Al2O3含量的增大表现出先增大后减小的变化趋势，这与Al2O3对YSZ晶界两方面的不同影响有关，Al2O3偏析于晶界一方面能清除晶界上对氧离子电导不利的SiO2，但另一方面也会降低晶界空间电荷层中的自由氧离子空穴的浓度．
ISSN:	1000-324X
DOI:	10.3321/j.issn:1000-324X.2004.03.041