InGaN/GaN耦合量子阱结构光电性质改善的物理机制

TN29%TN302; 利用数值模拟方法,研究InGaN/GaN耦合量子阱结构光电性质相对传统量子阱结构光电性质改善的物理机制.模拟结果显示,与InGaN/GaN传统量子阱相比,耦合量子阱结构的电压-电流特性得到有效改善,获得较高发光强度和光输出功率.其光电性质改善的主要机制是:InGaN/GaN耦合量子阱结构能够减小电场强度、势垒高度和厚度,从而加强阱中载流子隧穿效应,改善有源区载流子分布均匀性,同时,阱层中电子-空穴波函数重叠率也得到提高....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	厦门理工学院学报 2021, Vol.29 (3), p.37-42
Hauptverfasser:	许潮之, 蔡丽娥, 郑荣升, 赵铭杰, 孙栋, 程再军, 王元樟, 林海峰
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	TN29%TN302; 利用数值模拟方法,研究InGaN/GaN耦合量子阱结构光电性质相对传统量子阱结构光电性质改善的物理机制.模拟结果显示,与InGaN/GaN传统量子阱相比,耦合量子阱结构的电压-电流特性得到有效改善,获得较高发光强度和光输出功率.其光电性质改善的主要机制是:InGaN/GaN耦合量子阱结构能够减小电场强度、势垒高度和厚度,从而加强阱中载流子隧穿效应,改善有源区载流子分布均匀性,同时,阱层中电子-空穴波函数重叠率也得到提高.
ISSN:	1673-4432
DOI:	10.19697/j.cnki.1673-4432.202103006