外延阻挡杂质带探测器的抗反射

TN36; 传统外延阻挡杂质带探测器由于其材料物性和特殊的结构设计存在很强的反射,这些能量损失非常不利于器件的探测性能.报道了一种类光栅双层超构表面微结构阵列,并将此人工微结构引入到外延阻挡杂质带红外探测器以抑制对入射光的反射.实验结果显示,具有超构表面微结构阵列的器件在波长30μm处反射率低于3％,在25.3～32.2μm波段范围内反射率低于20％.同时,该超表面减反微结构对入射光的偏振还具有很强的选择性,符合第四代焦平面发展需求....

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	红外与毫米波学报 2021, Vol.40 (4), p.459-464
Hauptverfasser:	王超, 姚尧, 文政绩, 郝加明, 胡古今, 戴宁
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	TN36; 传统外延阻挡杂质带探测器由于其材料物性和特殊的结构设计存在很强的反射,这些能量损失非常不利于器件的探测性能.报道了一种类光栅双层超构表面微结构阵列,并将此人工微结构引入到外延阻挡杂质带红外探测器以抑制对入射光的反射.实验结果显示,具有超构表面微结构阵列的器件在波长30μm处反射率低于3％,在25.3～32.2μm波段范围内反射率低于20％.同时,该超表面减反微结构对入射光的偏振还具有很强的选择性,符合第四代焦平面发展需求.
ISSN:	1001-9014
DOI:	10.11972/j.issn.1001-9014.2021.04.004