地层因素对D-D次生γ源空间分布的影响研究

TL99%P631.8+17; 在D‐D可控源密度测量中,为研究不同地层条件对次生γ源空间分布的影响,首先分析D‐D可控源密度测量原理,在此基础上,采用蒙特卡罗方法模拟研究不同含氢指数、岩性和矿化度地层条件下的次生γ源空间分布特征,最后对其影响因素进行归纳总结.结果表明:次生γ源的空间位置和强度易受各种地层因素的影响,其中地层含氢指数、岩性和矿化度对次生γ源的空间分布都有影响,但影响程度不同.其中地层含氢指数的影响最大,主要影响空间位置,特别是当含氢指数在0~0.1变化时,俘获γ的空间位置变化最大.并且随着地层含氢指数增高,地层含氢量增高,对快中子的减速能力增强,更多的γ射线向中子源靠近,同时γ射线强度也逐渐增强.相比较而言,岩性和矿化度对次生γ源的强度影响较大,空间位置影响相对较小,岩性不同,地层中主要元素的种类和含量不同,热中子俘获截面不同,俘获γ强度也不相同;矿化度高的地层,氯元素含量相对较高,更多的热中子被俘获,γ射线强度增强.本研究对于D‐D次生γ源的影响校正提供了基础数据,也为建立精度较高的D‐D可控源密度测量方法提供依据.