EDXRD安检系统衍射谱数据库的仿真研究

O434.13; 能量色散X射线衍射(EDXRD)系统在安检领域具有重要的应用前景.基于能量色散X射线衍射原理,以ICDD-JCPDS数据作为初始能谱信息,分析了X射线光源、系统结构、探测器分辨率及物质衰减效应对衍射能谱的影响,建立了与系统特性相对应的衍射谱仿真模型.利用该模型,仿真了不同结构参数EDXRD系统的衍射谱,仿真谱和实际测量结果吻合.在此基础上,仿真了海洛因和NH4NO3在不同晶体结构下的衍射能谱,为EDXRD安检系统的识别数据库提供了一种有效的构建方法....

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Veröffentlicht in:光学仪器 2018, Vol.40 (6), p.29-35
Hauptverfasser: 王丽晓, 陈异凡, 徐捷, 王新, 穆宝忠
Format: Artikel
Sprache:chi
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:O434.13; 能量色散X射线衍射(EDXRD)系统在安检领域具有重要的应用前景.基于能量色散X射线衍射原理,以ICDD-JCPDS数据作为初始能谱信息,分析了X射线光源、系统结构、探测器分辨率及物质衰减效应对衍射能谱的影响,建立了与系统特性相对应的衍射谱仿真模型.利用该模型,仿真了不同结构参数EDXRD系统的衍射谱,仿真谱和实际测量结果吻合.在此基础上,仿真了海洛因和NH4NO3在不同晶体结构下的衍射能谱,为EDXRD安检系统的识别数据库提供了一种有效的构建方法.
ISSN:1005-5630
DOI:10.3969/j.issn.1005-5630.2018.06.005