高速数字集成电路ATE测试中的信道损耗补偿

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	电子世界 2019 (3), p.169-170
Hauptverfasser:	贾谦, 张瑞, 张涛, 尹萍
Format:	Magazinearticle
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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