基于FCM flow的小规模数字电路芯片测试

TN402; 随着芯片工艺的不断演进,数字芯片的规模急剧增加,测试成本进一步增加.目前先进的DFT技术已应用于大规模SoC芯片的测试,包括扫描路径设计、JTAG、ATPG(自动测试向量生成)等.但对于一些小规模集成电路,插入扫描链等测试电路会增加芯片面积并增加额外的功耗.对于这种芯片,功能case生成的pattern可用于检测制造缺陷和故障.因此,需要一些方法来验证覆盖率是否达到了目标.Verisium manager工具依靠Xcelium的故障仿真引擎和Jasper功能安全验证应用程序(FSV)可以解决这个问题.它为ATE(自动测试设备)pattern的覆盖率分析提供了一个新的思路....

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	电子技术应用 2023, Vol.49 (8), p.24-29
Hauptverfasser:	崔震, 周立阳, 刘萌, 赵禹, 王学德
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	TN402; 随着芯片工艺的不断演进,数字芯片的规模急剧增加,测试成本进一步增加.目前先进的DFT技术已应用于大规模SoC芯片的测试,包括扫描路径设计、JTAG、ATPG(自动测试向量生成)等.但对于一些小规模集成电路,插入扫描链等测试电路会增加芯片面积并增加额外的功耗.对于这种芯片,功能case生成的pattern可用于检测制造缺陷和故障.因此,需要一些方法来验证覆盖率是否达到了目标.Verisium manager工具依靠Xcelium的故障仿真引擎和Jasper功能安全验证应用程序(FSV)可以解决这个问题.它为ATE(自动测试设备)pattern的覆盖率分析提供了一个新的思路.
ISSN:	0258-7998
DOI:	10.16157/j.issn.0258-7998.239804