基于高速ADC的TOF-SIMS数据采集系统
TN98; 设计了一种适用于飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的数据采集系统.系统使用高速模数转换(ADC)芯片对模拟信号进行采样,以FPGA作为时序控制器,采用DDR3 SDRAM进行数据缓存,通过PCI-Express (PCIE)总线与上位机进行高速数据传输,并对ADC动态性能和PCI-Express总线的读写速度进行测试.结果表明,系统采集频率为400 MHz的正弦信号时,ADC的信噪比为56.333 dB,总谐波失真为-63.509 dB,有效位数为8.995 bit;PCI-Express总线写速度为1 135 MB/s,读速度为1 002 MB/s.测试结果满足TOF-S...
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Veröffentlicht in: | 电子技术应用 2018, Vol.44 (8), p.82-85 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | chi |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | TN98; 设计了一种适用于飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的数据采集系统.系统使用高速模数转换(ADC)芯片对模拟信号进行采样,以FPGA作为时序控制器,采用DDR3 SDRAM进行数据缓存,通过PCI-Express (PCIE)总线与上位机进行高速数据传输,并对ADC动态性能和PCI-Express总线的读写速度进行测试.结果表明,系统采集频率为400 MHz的正弦信号时,ADC的信噪比为56.333 dB,总谐波失真为-63.509 dB,有效位数为8.995 bit;PCI-Express总线写速度为1 135 MB/s,读速度为1 002 MB/s.测试结果满足TOF-SIMS仪器需求. |
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ISSN: | 0258-7998 |
DOI: | 10.16157/j.issn.0258-7998.180006 |