基于高层次综合工具的BIST控制器设计

TN432; 存储器内建自测试(MBIST)技术在存储器测试中具有广泛应用,针对传统寄存器传输级描述语言设计BIST控制器的过程相对繁琐、专用EDA工具定义算法的灵活性差和电路结构固定等问题,提出采用高层次综合工具设计BIST控制器的方法.以SRAM为对象,采用C语言描述MARCH算法,并采取端口分配、流水线优化和数组分割等优化方案完善设计.最后借助FPGA平台验证评估了高层次综合工具输出的RTL级代码电路的功能可靠性和规模可控性.相对于传统的两种方法,摆脱了算法实现和电路结构设计的局限性,缩短了算法实现周期....

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	电子技术应用 2018, Vol.44 (8), p.27-30
Hauptverfasser:	蔡红艳, 杜涛, 孟祥刚, 李国峰, 梁科, 陈新伟
Format:	Artikel
Sprache:	chi
Online-Zugang:	Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:	TN432; 存储器内建自测试(MBIST)技术在存储器测试中具有广泛应用,针对传统寄存器传输级描述语言设计BIST控制器的过程相对繁琐、专用EDA工具定义算法的灵活性差和电路结构固定等问题,提出采用高层次综合工具设计BIST控制器的方法.以SRAM为对象,采用C语言描述MARCH算法,并采取端口分配、流水线优化和数组分割等优化方案完善设计.最后借助FPGA平台验证评估了高层次综合工具输出的RTL级代码电路的功能可靠性和规模可控性.相对于传统的两种方法,摆脱了算法实现和电路结构设计的局限性,缩短了算法实现周期.
ISSN:	0258-7998
DOI:	10.16157/j.issn.0258-7998.174735