Method and apparatus for measuring metallic area-specific resistance

A simple method and apparatus for measuring the low area specific resistance of a metal plate, particularly in high temperature (

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Shong, Wei-Ja
Format: Patent
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:A simple method and apparatus for measuring the low area specific resistance of a metal plate, particularly in high temperature (