Effect of electrically induced cracks on the properties of PZT thin film capacitors

We present a study of the effect of electrically induced cracks on both the ferroelectric and piezoelectric properties of Pt/PbZr0.52Ti0.48O3 (PZT)/Pt capacitors and correlations with domain structures of PZT films. Above a threshold bipolar electric field, cracks appear inside the PZT layer thickne...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics letters 2022-12, Vol.121 (23)
Hauptverfasser: Kuentz, Hugo, Wagué, Baba, Vaxelaire, Nicolas, Demange, Valérie, Poulain, Christophe, Guilloux-Viry, Maryline, Le Rhun, Gwenael
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!