Effect of electrically induced cracks on the properties of PZT thin film capacitors
We present a study of the effect of electrically induced cracks on both the ferroelectric and piezoelectric properties of Pt/PbZr0.52Ti0.48O3 (PZT)/Pt capacitors and correlations with domain structures of PZT films. Above a threshold bipolar electric field, cracks appear inside the PZT layer thickne...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 2022-12, Vol.121 (23) |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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