Resolution of Semiconductor Detectors for Fission Fragments

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Rev. Sci. Instr 1965-09, Vol.36 (9), p.1385-1386
Hauptverfasser:	Haines, Eldon L., Whitehead, A. Bruce
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	ATOMS COLLISIONS EQUATIONS FISSION PRODUCTS INSTRUMENTATION IONIZATION NUMERICALS Radiation Detection RADIATION DETECTORS SEMICONDUCTORS SENSITIVITY
Online-Zugang:	Volltext
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