Carrier control in 2D transition metal dichalcogenides with Al2O3 dielectric
We report transport measurements of dual gated MoS 2 and WSe 2 devices using atomic layer deposition grown Al 2 O 3 as gate dielectrics. We are able to achieve current pinch-off using independent split gates and observe current steps suggesting possible carrier confinement. We also investigated the...
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Veröffentlicht in: | Scientific reports 2019-06, Vol.9 (1), p.1-6, Article 8769 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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