Carrier control in 2D transition metal dichalcogenides with Al2O3 dielectric

We report transport measurements of dual gated MoS 2 and WSe 2 devices using atomic layer deposition grown Al 2 O 3 as gate dielectrics. We are able to achieve current pinch-off using independent split gates and observe current steps suggesting possible carrier confinement. We also investigated the...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Scientific reports 2019-06, Vol.9 (1), p.1-6, Article 8769
Hauptverfasser: Lau, Chit Siong, Chee, Jing Yee, Thian, Dickson, Kawai, Hiroyo, Deng, Jie, Wong, Swee Liang, Ooi, Zi En, Lim, Yee-Fun, Goh, Kuan Eng Johnson
Format: Artikel
Sprache:eng
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