Nanoscale imaging of buried topological defects with quantitative X-ray magnetic microscopy
Advances in nanoscale magnetism increasingly require characterization tools providing detailed descriptions of magnetic configurations. Magnetic transmission X-ray microscopy produces element specific magnetic domain images with nanometric lateral resolution in films up to ∼100 nm thick. Here we pre...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Nature communications 2015-09, Vol.6 (1), p.8196, Article 8196 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!