A note on inference for P(X  <  Y) for right truncated exponentially distributed data

In this paper, a likelihood based analysis is developed and applied to obtain confidence intervals and p values for the stress-strength reliability R  =  P ( X  

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Statistical papers (Berlin, Germany) Germany), 2008-10, Vol.49 (4), p.637-651
Hauptverfasser: Jiang, L., Wong, A. C. M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:In this paper, a likelihood based analysis is developed and applied to obtain confidence intervals and p values for the stress-strength reliability R  =  P ( X  
ISSN:0932-5026
1613-9798
DOI:10.1007/s00362-006-0034-3