Specimen chambers for critical point drying for scanning electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of electron microscopy technique 1988-04, Vol.8 (4), p.443-444
Hauptverfasser:	Hess, W. M., Allen, J. V., Gardner, J. S., Reynolds, Jay
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Microscopy, Electron, Scanning - instrumentation Specimen Handling - instrumentation
Online-Zugang:	Volltext
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