Absolute reflectometer for the 0.8-2.5-microm region

A reflectometer based on an integrating sphere operating in the 0.8-2.5-microm region is described. The reflectometer is of the absolute type and does not need a standard diffuse reflecting surface to obtain absolute reflectance values. The system is fully automatic, using computer-controlled circul...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied optics (2004) 1987-02, Vol.26 (3), p.583-586
Hauptverfasser:	Sheffer, D, Oppenheim, U P, Clement, D, Devir, A D
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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