Dielectric function of sputter-deposited silicon dioxide and silicon nitride films in the thermal infrared

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied Optics 1985-03, Vol.24 (6), p.745-746
Hauptverfasser: ERIKSSON, T. S, JIANG, S, GRANQVIST, C. G
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0003-6935
1559-128X
1539-4522
DOI:10.1364/ao.24.000745