The influence of cathode thickness and aging on the photoelectric yields of LiF and CsI in the xuv

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied Optics 1966-08, Vol.5 (8), p.1338-1339
Hauptverfasser:	Heroux, L, McMahon, W J, Hinteregger, H E
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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