Simple technique to measuring the injection current-induced frequency deviation of semiconductor lasers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Applied Optics 1989-02, Vol.28 (4), p.648-649
Hauptverfasser:	CHUNG, Y. C, SHAY, T. M
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Exact sciences and technology Fundamental areas of phenomenology (including applications) Lasers Optics Physics Semiconductor lasers laser diodes
Online-Zugang:	Volltext
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