The Effect of Neutron Bombardment on the Low Temperature Atomic Heat of Silicon

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Science (American Association for the Advancement of Science) 1952-12, Vol.116 (3023), p.630-631
Hauptverfasser:	Keesom, P. H., Lark-Horovitz, K., Pearlman, N.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	ANNEALING Charge carriers Crystal lattices DEFECTS Dienes Heat Heat treatment HEAT TREATMENTS IRRADIATION LATTICES LOW TEMPERATURE NEUTRONS PHYSICS RADIATION EFFECTS SILICON SPECIFIC HEAT Technical Papers TRAPS
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