A new approach to measuring high-resolution magnetic Compton profiles
It is demonstrated that long‐term stability in the polarization of incident photons delivered from an insertion device makes it possible to measure magnetic Compton profiles with a momentum resolution of 0.15 atomic units or better, without employing a solid‐state detector and the traditional method...
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Veröffentlicht in: | Journal of synchrotron radiation 2006-03, Vol.13 (2), p.221-224 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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