Observations of Grain Boundary Potential Barrier in Polycrystalline Silicon by Kelvin Probe Force Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Materia (Sendai. 1994) 2006/10/20, Vol.45(10), pp.734-737
Hauptverfasser:	Tsurekawa, Sadahiro, Kido, Kota, Watanabe, Tadao
Format:	Artikel
Sprache:	jpn
Schlagworte:	grain boundary grain boundary character Kelvin Probe force microscobv potential barrier silicon trihip itinctinv
Online-Zugang:	Volltext
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