Application of cat's-eye retroreflector in micro-displacement measurement
The performance of a cat's-eye retroreflector in interferometric micro-displacement measurements is discussed. Based on paraxial calculations, approximate equations of the wavefront distortion and the measurement error caused by the displacement itself are derived. The capability for nanometer...
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Veröffentlicht in: | Precision engineering 2007, Vol.31 (1), p.68-71 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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