Test development for second-generation ColdFire microprocessors

Test development for second-generation ColdFire microprocessors

This case study shows how test designers met fundamental microprocessor testing goals while adapting existing methodologies to a new architecture.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE design & test of computers 1998-07, Vol.15 (3), p.70-76
Hauptverfasser: Amason, D., Crouch, A.L., Eisele, R., Giles, G., Mateja, M.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Automatic test pattern generation
Automatic testing
Circuit testing
Delay
Flip-flops
Frequency
Microprocessors
Pins
Registers
Timing
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Beschreibung
Zusammenfassung:This case study shows how test designers met fundamental microprocessor testing goals while adapting existing methodologies to a new architecture.
ISSN:0740-7475
1558-1918
DOI:10.1109/54.706036