Roadmaps and visions for design and test

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE design & test of computers 2001-11, Vol.18 (6), p.4-5
Hauptverfasser:	Joyner, W.H., Kahng, A.B.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Algorithm design and analysis Circuit testing Computer science Costs Electronic design automation and methodology Electronics industry Mathematics Semiconductor device testing Software design Transistors
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