[011] Creep in a single crystal nickel base superalloy at 1033K

TEM investigation are performed on [011] single crystals of SRR99 after at 1033 K under a load at 680 MPa. At the creep rate minimum, multiple slip in the matrix occurs on four octahedral slip systems. Octahedral cross slip or cubic slip is not activated. Due to the superposition of coherency and ex...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Acta metallurgica et materialia 1994-09, Vol.42 (9), p.3167-3174
Hauptverfasser: Feller-Kniepmeier, M., Kuttner, T.
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:TEM investigation are performed on [011] single crystals of SRR99 after at 1033 K under a load at 680 MPa. At the creep rate minimum, multiple slip in the matrix occurs on four octahedral slip systems. Octahedral cross slip or cubic slip is not activated. Due to the superposition of coherency and external stressein small matrix channels, deformation is concentratedned in the “roof” matrix channels. During secondary creep, screw interfaial dislocations cross slip in the cube γ/gg' interfaces. In this stage, γ' precipitates are sheared by Shocley super parrials. Common shereing of matrix and γ' particles by Shockley super partials is observed. The high creep rate in the [011] orientation is considered to be caused by the stress concentration in roof matrix channels and the few actiated slip sysems. An [011] orientierten Einkristallen der Legierung SRR99 wurden Kriechweesuche bei 1033 K unter einer Last von 680 MPa durchgeführt. Am. Minimum der Kriechrate werden vier oktaedrische Gleixtsyseme der matrix aktiviert. Oktaedrische Quergleitung der Gleiten werden nicht beobachtet. Als Floge der Überlagerung von Kohärenzzpannung und äβerer Last in engen Matrixkanälen, ist die Verfformung auf “Dach” Matrixkanäle konzertriert. Während des sekundären kubischen γ/gg' Grenzflächen. γ' Phase und matrix können durch Super-Shocklly Partialversetzungen gemeinsam geschnitten werden. Die hohe Kriechgeswindigkeit [011] orientierter Proben wird auf die Spannungsonzentration in den Dachkanälen der matrix und auf geringe Zahl der activierten Gleitsysteme zurückgelfürt.
ISSN:0956-7151
1873-2879
DOI:10.1016/0956-7151(94)90415-4