Ellipsometric study of ambient-produced overlayer growth rate on YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 sub - sub x films

Ellipsometric study of ambient-produced overlayer growth rate on YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 7 sub - sub x films

Title describes article content.

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 1993-01, Vol.73 (9), p.4357-4361
Hauptverfasser: Sieg, Robert M, Alterovitz, Samuel A, Warner, Joseph D
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Title describes article content.
ISSN:0021-8979