Microwave penetration depth measurements in Bi sub 2 Sr sub 2 CaCu sub 2 O sub 7 sub - sub / delta J single crystals and YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 8 thin films
In both materials, the depth depends on T sup 2 at 10-25 K. Systematic deviations toward a flatter temp. dependence appear at < 10 K.
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Veröffentlicht in: | Physical review letters 1993-01, Vol.71 (5), p.781-784 |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | In both materials, the depth depends on T sup 2 at 10-25 K. Systematic deviations toward a flatter temp. dependence appear at < 10 K. |
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ISSN: | 0031-9007 |