Microwave penetration depth measurements in Bi sub 2 Sr sub 2 CaCu sub 2 O sub 7 sub - sub / delta J single crystals and YBa sub 2 Cu sub 3 O sub 8 thin films

In both materials, the depth depends on T sup 2 at 10-25 K. Systematic deviations toward a flatter temp. dependence appear at < 10 K.

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physical review letters 1993-01, Vol.71 (5), p.781-784
Hauptverfasser: Ma, Zheng-Xiang, Taber, Robert C, Lombardo, L W, Kapitulnik, A, Beasley, M R
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:In both materials, the depth depends on T sup 2 at 10-25 K. Systematic deviations toward a flatter temp. dependence appear at < 10 K.
ISSN:0031-9007