An oxygen tracer study of InP oxidation
Oxidation takes place at the oxide surface by outward migration of In and P rather than at the InP-oxide interface.
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Veröffentlicht in: | Journal of the Electrochemical Society 1992-03, Vol.139 (3), p.799-802 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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Zusammenfassung: | Oxidation takes place at the oxide surface by outward migration of In and P rather than at the InP-oxide interface. |
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ISSN: | 0013-4651 1945-7111 |
DOI: | 10.1149/1.2069305 |