Proton-induced SEU, dose effects, and LEO performance predictions for R3000 microprocessors

The authors present low-energy (

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on nuclear science 1992-12, Vol.39 (6), p.2309-2315
Hauptverfasser: Shaeffer, D.L., Kimbrough, J.R., Wilburn, J.W., Denton, S.M., Kaschmitter, J.L., Colella, N.J., Coakley, P.G., Casteneda, C.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:The authors present low-energy (
ISSN:0018-9499
1558-1578
DOI:10.1109/23.211441