Chemical and Electronic Investigation of Buried NiO1-δ, PCBM, and PTAA/MAPbI3-xClx Interfaces Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy and Transmission Electron Microscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ACS applied materials & interfaces 2021-10, Vol.13 (42), p.50481-50490
Hauptverfasser:	Gueye, Ibrahima, Shirai, Yasuhiro, Khadka, Dhruba B, Seo, Okkyun, Hiroi, Satoshi, Yanagida, Masatoshi, Miyano, Kenjiro, Sakata, Osami
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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