Enhancement of copper adhesion on alumina induced by ion-beam mixing
There is a scientific and technological interest in understanding and controlling the bonding process for joining metal to ceramics. Ion-beam mixing with 1.5 MeV-energy xenon-ion irradiation induces a significant enhancement of adhesion between thin copper films and polycrystalline alumina substrate...
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Veröffentlicht in: | Journal of materials science letters 1990-01, Vol.9 (1), p.97-99 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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