Thermal design studies of high-power heterojunction bipolar transistors
A theoretical thermoelectro-feedback model has been developed for the thermal design of high-power GaAlAs/GaAs heterojunction bipolar transistors (HBTs). The power-handling capability, thermal instability, junction temperature, and current distributions of HBTs with multiple emitter fingers have bee...
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Veröffentlicht in: | IEEE transactions on electron devices 1989-05, Vol.36 (5), p.854-863 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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