Epitaxial growth of α-Fe films on Si(111) substrates
Epitaxial α-Fe films have been grown on HF cleaned Si(111) substrates at 30 °C by electron beam evaporation in an ultrahigh vacuum environment to a thickness of several thousands of Angstroms. Conventional θ−2θ x-ray diffraction shows that only the Fe(222) peak is present, indicating that the films...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 1991-08, Vol.59 (8), p.953-955 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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