A structural and compositional analysis of interfaces in ZnSe0.94S0.06 layers grown on to GaAs by OMCVD

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Journal of materials science 1984-11, Vol.19 (11), p.3726-3731
Hauptverfasser:	COCKAYNE, B, WRIGHT, P. J, BLACKMORE, G. W, WILLIAMS, J. O, NG, T. L
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) Thin film structure and morphology
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