Statistical analysis of aging-induced degradation /or lifetime/ variations in /Al, Ga/As/GaAs double-heterostructure lasers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE journal of quantum electronics 1983-03, Vol.QE-19, p.457-465
1. Verfasser: MIZUISHI, K
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0018-9197