RIE of SiO2 in doped and undoped fluorocarbon plasmas

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Vacuum 1982-01, Vol.32 (12), p.737-745
Hauptverfasser: Norström, H, Buchta, R, Runovc, F, Wiklund, P
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0042-207X
DOI:10.1016/0042-207X(82)93846-5