Nucleation and growth rate of a -Si alloys
From fitting the crystallization rate to an Arrhenius rate expression with a single activation energy we found that it is possible to distinguish a purely amorphous silicon sample from one having trace crystallinity. Whenever microcrystallites are present whether from heavy P doping or heat treatmen...
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Veröffentlicht in: | Applied physics letters 1983-01, Vol.42 (1), p.90-92 |
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Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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