Effect of He Ion Implantation on the Domain Structure of Evaporated Single-Crystal Ni Thin Films Viewed by Lorentz Electron Microscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied physics letters 1976-12, Vol.20 (12), p.819-822
Hauptverfasser:	Proto, G R, Lawless, K R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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