Thermally-Induced Defects in n-Type and p-Type Si

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physica status solidi. A, Applied research Applied research, 1973-12, Vol.20 (2), p.601-610
Hauptverfasser: Leskoschek, W, Feichtinger, H, Vidrich, G
Format: Artikel
Sprache:eng
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0031-8965